光電子器件是光電子技術(shù)的關(guān)鍵和核心部件，是現(xiàn)代光電技術(shù)與微電子技術(shù)的前沿研究領(lǐng)域，是信息技術(shù)的重要組成部分，具有低功耗、高速率、高可靠、小體積等突出優(yōu)勢。光電子器件應(yīng)用范圍十分廣闊，如家用攝像機、手機相機等等，其使用范圍難以勝數(shù)，是一個巨大的產(chǎn)業(yè)。

　　為了響應(yīng)市場需求，蔡司將于9月11日至13日在深圳參展第二十五屆中國國際光電博覽會。蔡司誠邀各界專家、學者、合作伙伴及客戶蒞臨展會，共同交流探討光電子技術(shù)的最新發(fā)展與應(yīng)用，期待與您攜手掌控質(zhì)量，共創(chuàng)光電子技術(shù)的美好未來。

　　邀請函

　　第二十五屆中國國際光電博覽會

　　時間：9月11日- 13日

　　地點：深圳國際會展中心(寶安新館)

　　展位號：3B 53

　　復(fù)合式三坐標質(zhì)量解決方案

　　聚焦光電領(lǐng)域 | O-INSPECT 863 duo (2024年新款)

　　多測頭量測帶來 PCB/Pin 針測量解決方案

　　優(yōu)勢：

　　• 大臺面復(fù)合式測量設(shè)備

　　• 高分辨率彩色光學測量系統(tǒng)

　　• 全自動計量和檢測、成像和記錄多個部件。

　　• 三維尺寸、形位公差測量和缺陷檢測

　　• 蔡司ZVP可縮短圖像采集時間，測量速度提高 44%

　　• 兩款專用軟件

　　蔡司影像測量儀解決方案

　　O-DETECT 手機中框檢測解決方案

　　線邊影像量測 ZEISS O-DETECT 322

　　光學儀器檢測方案 | CONTURA

　　高性能蔡司三坐標測量機 CONTURA 7106+VAST XXT

　　優(yōu)勢：

　　• 小特征多角度，可以利用XXT TL3最小可以攜帶0.3mm探針 ，同時利用RDS功能2.5度的步進角度進行空間多角度測量

　　• CALYPSO的元素自動策略設(shè)置，加快檢測程序編輯，包括程序元素位置的自動優(yōu)化排序，適用于對電子連接器的檢測。

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